鏡片膜層厚度測量儀

鏡片膜層厚度測量儀波長范圍：380nm ～850nm

反射比探測設計：全光譜光纖共焦(鏡片反比測試無需磨砂涂黑操作)

反射比測定方法：標準物質對比計算絕對反射比

物鏡：10倍平場物鏡

入射角度：入射角度0~8°

反射比范圍：0~100%

光譜分辨率：1nm(常規眼鏡反射比計算5nm采樣)

波長準確度：±0.5nm

積分測量時間：≤1.5秒

反射比示值：≤±1%(0～100%)

反射比重復性：≤0.5%

測量光斑尺寸：50μm

被檢樣品曲率：-1R ～-oo、+1R～00

攝像頭：黑白工業攝像頭

觀察及對焦方式：CCD攝像頭采集對焦光斑，直接觀測光斑形態對焦。

反射測試光源：鹵素燈5V10VA(壽命10000小時)

電壓功率：AC 220V輸入10VA

FILM透射比軟件標配功能：

顯示圖表：光譜能量圖、反射曲線圖、計算方法圖、理論對比圖

圖表分度線：可任意設置XY顯示坐標

膜厚計算方法:自動判斷選擇、傅里葉FFT計算、極值法計算、擬合計算

物質材料庫：可自行添加標準物質。(個別材料種類需要聯系廠家進行添加)

評估數值：R2根系數、評估方差值

計算方法閾值：可自定義評估計算方法的閾值，及評估系數超差報警閾值

波長處理：自定義計算的波段及間隔波長(僅在IR-5波段范圍內設置)

曲線顯示設置：擬合使用歸一顯示及是否顯示反射率絕對值

精確度：0.2nm

膜厚準確度：2nm或0.4%

重復性：0.15nm

膜厚測量范圍：50nm~75μm(0.05~75μm)